晶閘管測(cè)試儀的適用范圍

更新時(shí)間：2017-12-15

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晶閘管測(cè)試儀的適用范圍

　　晶閘管測(cè)試儀使用范圍：

　　用于測(cè)試普通可控硅、雙向可控

　　硅、快速可控硅、可控硅模塊的

　　通態(tài)峰值電流ITM和峰值壓降VTM

　　用于測(cè)試整流管的正向峰值電流

　　IFM和峰值壓降VFM

　　數(shù)字顯示測(cè)試結(jié)果，自動(dòng)測(cè)試

　　通態(tài)峰值電流值測(cè)試前可準(zhǔn)確設(shè)定，并具有良好的測(cè)試重復(fù)性。

　　晶閘管測(cè)試儀是晶閘管觸發(fā)電壓VGT、觸發(fā)電流IGT和維持電流IH三項(xiàng)參數(shù)的測(cè)試設(shè)備。適用于各種反向阻斷晶閘管，逆導(dǎo)晶閘管及雙向晶閘管的參數(shù)測(cè)試。本儀器設(shè)計(jì)先進(jìn)，操作簡(jiǎn)便，采用數(shù)字表顯示測(cè)試結(jié)果，具有精度高，重復(fù)性好，對(duì)被測(cè)器件自動(dòng)保護(hù)等特點(diǎn)。其測(cè)試原理符合 GB4024-83 標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，是電力半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠和使用單位zui為理想的檢測(cè)設(shè)備。

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晶閘管測(cè)試儀的適用范圍